Las películas mesoporosas de TiO₂ presentan un gran potencial de aplicación en varios campos, tales como catálisis, óptica, fabricación de sensores, biomateriales y conversión de energía, entre otros. El estudio de sus propiedades morfológicas y eléctricas en distintas condiciones ambientales constituye un paso previo necesario para las posibles aplicaciones tecnológicas. En este sentido resulta interesante la caracterización de sus propiedades locales por medio de la técnica de microscopía de fuerza atómica con punta conductora (CT-AFM).
Se fabricaron películas delgadas de TiO₂ por sol-gel utilizando precursores moleculares y surfactantes para inducir la formación de una estructura mesoporosa ordenada, con poros monodispersos de 9 nm de diámetro. Se estudiaron películas mesoporosas y no mesoporosas de TiO₂, que fueron caracterizadas estructuralmente por elipsoporosimetría ambiental. Mediante CT-AFM se estudió la topografía y el transporte eléctrico en la dirección perpendicular al plano de la película; estas mediciones se realizaron en condiciones de humedad controlada. En este trabajo se muestra que, en el caso de la película mesoporosa, es posible modificar localmente la resistencia eléctrica y la topografía mediante barridos de CT-AFM con diferentes voltajes. Comparando los resultados con los obtenidos para películas no mesoporosas de TiO₂ se pudo determinar que este efecto depende fuertemente de la presencia de agua dentro de los poros durante el experimento.